测长机是什么？测长机原理介绍

  以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，运用机械测头进行触摸丈量的光学长度丈量东西。具有能在3个坐标内移动和2个坐标内滚动的可调工作台，还带有不同测头和附件，常用于检定大尺度量块和丈量多种工件的内、外尺度。测长机有1米、3米、6米和6米以上等几种丈量规划，分度值一般为1微米。为求结构严密相连，大都测长机不选用阿贝准则（见长度丈量东西），而选用爱宾斯坦光学体系。这种光学体系能主动补偿因为导轨直线度差错引起的丈量差错。

  丈量规划在1米以内的习惯上称为测长仪，它运用读数显微镜和带有线纹尺的丈量轴组成的丈量体系（习惯上称为阿贝头）进行触摸丈量。阿贝头的示值规划一般为100毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计一般契合阿贝准则，故一般也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的丈量规划一般别离不大于250毫米和600毫米(丈量规划大于100毫米时需要用量块调整零位)。前者大大都都用在丈量外尺度,后者大大都都用在丈量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内、外尺度等。

  2.丈量原理：运用头座的测力并运用测帽球面（针对平面物体丈量-如量块，校正杆，千分尺，卡规等）触摸被测平面，五轴工作台的水平方向起浮，使得尾座测帽球面与被测件另一平面触摸；然后测得两测帽球面极点间的间隔；

  运用头座的测力并运用平面测帽的平面（针对圆周外径丈量，如光面塞规，针规及棒材）触摸被测平面，五轴工作台的水平方向起浮，使得尾座测帽球面与被测件另一平面触摸；然后测得两测帽平面间的间隔；

  运用头座测力并运用平面测帽触摸三针使三针与螺纹塞规螺纹槽中径截面点触摸，得到平面测帽间的间隔，并加上三针针径，运用三针法核算得到螺纹单一中径；

  运用T型测球与螺纹环规内螺纹槽中径截面点别离触摸，得到一组螺纹中截面中径数据，并经过三针法核算得到螺纹单一中径；

  3.数据批改：经过测力批改体系及温度批改体系将X轴向光栅反应的数据来进行批改得到正确的X轴规范长度数值；

  4.软件规范及数据核算：软件体系内置多个规范，并经过对应规范的数据核算得到检定所需数据（如螺纹的单一中径，量块的规范长度，光面规的真值等。

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