「轮廓仪」- 轮廓仪价格、厂家信息 - 仪器网

  ContourX- 200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。 1. 超强 LED 双光源，白光和绿光 2. 垂直测量范围： 0.1nm 至 10mm；为了能够更好的保证测量精确性，全量程闭环扫描，可连续测量0.1nm 到 10mmZ 向起伏样品，无需缝合拼接 3. 垂直方向的分辨率：≤0.1nm； 4. RMS 测量的重复性：0.01nm； 5. 台阶高度测量准确性：≤0.75%； 6. 台阶高度测量重复性：≤0.1%； 7. 测量台：X-Y 行程 150mm×150mm，自动控制；Z 方向最大行程 100mm，自动控制; 测量台倾斜俯仰(±6°)； 8. 最大样品测试高度：100mm； 9. 采样点数：≥1280*960； 10. 真彩色模块，含彩色 CCD 摄像头和彩色分析模块，实现样品线. 样品反射率：0.05%至 100%； 13. 具备自动聚焦功能，自动调光强功能 14. 具有无缝拼接功能，专利设计螺旋拼接，能大大的提升拼接速度，节省测试时间。 15. 自动目镜切换系统，可选 1x，0.55x, 2x 目镜（至少选择一个镜头） 16. 5 孔自动物镜塔台（选配） 17. 白光干涉物镜 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x （至少选择一个镜头） 18. 真彩色模块信号采集系统，分辨率 1280*960 19. 配备超光滑 Si-C 样品和带 8um 台阶样品

  ContourX- 200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。 1. 超强 LED 双光源，白光和绿光 2. 垂直测量范围： 0.1nm 至 10mm；为了能够更好的保证测量精确性，全量程闭环扫描，可连续测量0.1nm 到 10mmZ 向起伏样品，无需缝合拼接 3. 垂直方向的分辨率：≤0.1nm； 4. RMS 测量的重复性：0.01nm； 5. 台阶高度测量准确性：≤0.75%； 6. 台阶高度测量重复性：≤0.1%； 7. 测量台：X-Y 行程 150mm×150mm，自动控制；Z 方向最大行程 100mm，自动控制; 测量台倾斜俯仰(±6°)； 8. 最大样品测试高度：100mm； 9. 采样点数：≥1280*960； 10. 真彩色模块，含彩色 CCD 摄像头和彩色分析模块，实现样品线. 样品反射率：0.05%至 100%； 13. 具备自动聚焦功能，自动调光强功能 14. 具有无缝拼接功能，专利设计螺旋拼接，能大大的提升拼接速度，节省测试时间。 15. 自动目镜切换系统，可选 1x，0.55x, 2x 目镜（至少选择一个镜头） 16. 5 孔自动物镜塔台（选配） 17. 白光干涉物镜 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x （至少选择一个镜头） 18. 真彩色模块信号采集系统，分辨率 1280*960 19. 配备超光滑 Si-C 样品和带 8um 台阶样品

  Filmetrics F3-sX 白光干涉膜厚测量仪利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列膜厚仪配置10微米的测量光斑，从而能够容易地测量其他膜厚测量仪器不能测量的膜层，并且仅在几分之一秒内完成。F3-sX膜厚仪在Si晶圆厚度测量、护涂层、IC芯片失效分析、厚光刻胶等方面优异表现。

  落地式NPFLEX-1000白光干涉（WLI）测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制作的完整过程。该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面™ 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升使用者真实的体验，并减少测量时间。结合自适应USI测量模式和引导、简化的VisionXpress ™ 界面，NPFLEX-1000为汽车、医疗器械和增材制造等生产领域提供了毫不妥协的计量方法.

  落地式ContourX-1000 白光干涉（WLI）系统集成了Bruker 在硬件和软件上的Z新技术， 可 用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面 （Advanced Find Surface ™）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了使用者真实的体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简 洁的引导式 VisionXpress ™操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。

  ContourX-100光学轮廓仪以Z佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。 该小尺寸系统采用流线型设计，结合了数十年专有的布鲁克白光干涉仪（WLI）创新，可提供毫不逊色的2D/ 3D高分辨率测量功能。满足计量要求的台式系统具有业界Z先进的友好用户界面，可直观访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜和摩擦学应用分析。

  布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，能够给大家提供更高的重复性和分辨率，测量重复性能够达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领头羊。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能做到功能更强大，操作更简易，检验测试过程和数据采集更完善。

  西班牙Sensofar 5轴全3D光学轮廓仪S neox Five Axis

  S neox Five Axis 3D光学轮廓仪结合了高精度旋转模块和S neox 3D光学轮廓仪的先进检测和分析功能在指定的位置上实现全自动地3D表面测量，并结合在一起，完成全表面的3D立体测量。

  德Bruker光学轮廓仪ContoruGT-表面量测系统-供生产QC/QA及研发研用的非接解触型光学轮廓仪,ContourGT 系列新产品中包含有旗靓级ContourGT-X, 进阶级ContourGT-1及入门等级的桌上型K0,每款机型可提供多种加工与制造业市场上各种应用场景范围（包括高亮度LED，太阳能，眼科，半导体及YL装置等）。NPRLEX 为大尺寸工件精密加工提供非接触准确测量。

  晶圆几何形貌测量及参数自动检验测试机使用高精度高速光谱共焦双探头对射传感器实现晶圆的非接触式测量，结合高精度运动模组及晶圆机械手可实现晶圆形貌的亚微米级精度的测量，该系统适用于晶圆多种材质的晶圆，包括蓝宝石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等；

  晶圆几何形貌及参数红外干涉自动检验测试机使用高精度高速红外干涉点传感器实现晶圆的非接触式测量，结合高精度运动模组及晶圆机械手可实现晶圆形貌的亚微米级精度的测量，该系统适用于晶圆多种材质的晶圆，包括蓝宝石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等；能轻松实现的尺寸与结构测量内容有： 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness ， TIR, Sag, LTV(Fullmap 测试)。

  专为测量旋转对称样品的表面形貌和透明薄膜的厚度而设计，如金刚石车削光学表面和模塑或抛光的非球面透镜

  ContourX-500 具有卓越的 Z 轴分辨率和准确度，并具备布鲁克落地式白光干涉（WLI）仪器广受业界认可的所有优势，而占地面积更小

  ContourX-200 光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用起来更便捷三者的完美融合，是同种类型的产品中*快、*准确、可重复性*高的非接触式三维表面计量系统。

  具备最超高的性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。